产品简介
标准永磁体是一种专门设计用于校准高斯计的永磁装置,其采用高性能稀土材料制造,广泛应用于各种需要精确磁场校准的领域,如实验室、计量部门和工业检测设备。
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振动样品磁强计是一种用于测量材料磁性能的仪器,可用于材料研究和开发、质量控制及产品检测,完成对磁性材料的基本磁性能的测量和分析。可测量磁性材料的基本磁性能(如磁化曲线,磁滞回线,退磁曲线,升温曲线、升/降温曲线、降温曲线、设定温度下的磁化曲线、设定温度下的磁滞回线等),得到相应的各种磁学参数(如饱和磁化强度,剩余磁化 强度,矫顽力,最大磁能积,居里温度,磁导率、初始磁导率等),可测量粉末、颗粒、片状、块状等磁性材料。可原位测量磁性材料从室温至 800 度以及室温至液氮温区磁性能随温度的变化曲线
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本电源为准双极性直流电源(可换向但有延迟),具有高准确度、高线性度、高稳定度、低纹波噪声等特点, 微处理器控制的继电器换向方式、5种可选延迟时间、 换向电流冲击小于1mA、I、I-III、I-III-I象限三种线性扫描模式、 标准配备内部USB转换接口、完备的计算机接口命令集 触发输出同步功能、扫描过程中的定时连续触发输出功能。
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B-H实验仪,全称静态磁特性(磁滞回线)测试仪,是用于测量软磁材料(如硅钢、铁氧体等)在直流或缓慢变化磁场下磁化特性的仪器。它主要绘制磁滞回线(B-H曲线),获取饱和磁感应强度、剩磁、矫顽力、磁导率等关键参数,评估材料磁性能。
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高斯计/特斯拉计适合要求高测试精度,高分辨率的磁场测试应用。测量范围从直流到50KHZ的交流磁场。自动较零,自动量程。保持模式可选极大值,极小值,峰值和谷值。仪表可同时测量和显示6种参数。测量单位可选高斯,毫特斯拉,A/M或Oe。
用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数,而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的,因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。实验结果由软件自动计算得到,可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度 (Sheet Carrier Concentration)、迁移率 (Mobility)、电阻率 (Resistivity)、 霍尔系数 (Hall Coefficient)、磁致电阻等等。
无矩线圈是通过几组线圈以一定的几何结构安装,并通过各组线圈的不同匝数和相同的电流,使线圈外部磁场急速衰减,线圈磁矩基本为零,可有效降低线圈磁场和外部屏蔽装置的耦合干扰 ,提高线圈磁场在屏蔽筒、屏蔽室内的磁场线性度。
磁场屏蔽效果可以达到更高的水平(小于1nT),采用交流电流产生磁场使它具有更高的直流,交流磁场屏蔽效能,更准确的轨迹寻迹功能,更大的量程范围,更高的响应速度,,能够达到在(0-100000nT)磁场的范围内,三分量X,Y,Z的磁场产生可以精确到1nT,调节步进也可精确到1nT,使科研,军工,医疗等众多领域的产品制作和实验极具意义,已被广泛应用。
霍尔效应实验仪用于观测载流导体在磁场中产生的横向电势差(霍尔电压),测定载流子类型(N/P型)、浓度及磁场强度。通过电流、磁场与电压关系验证霍尔效应,是半导体研究和磁测量的基础设备。
高精度磁通计/高斯计是由微处理器控制,利用电子积分原理、自动数字抑制调节漂移系统,用彩色显示屏显示被测磁通量大小和磁场强度的仪器,它可以测量总体磁通量,从而得到磁通密度与磁场强度的值
振动样品磁强计是一种用于测量材料磁性能的仪器,可用于材料研究和开发、质量控制及产品检测,完成对磁性材料的基本磁性能的测量和分析。可测量磁性材料的基本磁性能(如磁化曲线,磁滞回线,退磁曲线,升温曲线、升/降温曲线、降温曲线、设定温度下的磁化曲线、设定温度下的磁滞回线等),得到相应的各种磁学参数(如饱和磁化强度,剩余磁化 强度,矫顽力,最大磁能积,居里温度,磁导率、初始磁导率等),可测量粉末、颗粒、片状、块状等磁性材料。可原位测量磁性材料从室温至 800 度以及室温至液氮温区磁性能随温度的变化曲线
旋转永磁铁是以永磁体结构加机械旋转装置形成一个固定频率的标准正弦波磁场。相较电磁产品产生的交流磁场,有磁场高,无需功放驱动,节能,输出稳定的特点。
单极可调式磁场发生器,是由高强度永磁材料和可调机构及磁场测量仪组成的。工作平台表面磁场0-0.9T可调,磁场数字显示。
磁通线圈是磁通计关键部件,用于感应磁场变化。广泛应用于磁性材料检测,磁场分布研究等。可定制线圈常数、不同量程等。 适用于不同品牌磁通计。