CN
霍尔效应测试系统
用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度 (Sheet Carrier Concentration)、迁移率 (Mobility)、电阻率 (Resistivity)、 霍尔系数 (Hall Coefficient)、磁致电阻 (Ma
霍尔效应测试系统参数
CH-30
CH-50
CH-60
CH-70
CH-80
CH-100低温
CH-100高低温
CH-100高温
CH-200高低温
CH-300
CH-300A电磁型
CH-500H
CH-500高低温
可测试样品
